Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "x-ray optics"

Наноиндустрия #7/2015
А.Турьянский, Н.Герасименко, Я.Станишевский, С.Гижа, Д.Смирнов
Многоканальный аналитический рентгеновский комплекс на базе яркого микрофокусного источника

Предложена структурная схема многоканального аналитического рентгеновского комплекса (МАРК) с ярким микрофокусным источником, обеспечивающая реализацию основных методов рентгеновской диагностики на базе единой автоматизированной системы. Сформулированы общие требования к параметрам источника для проведения комплексных измерений с помощью МАРК. Рассмотрены методы формирования различных типов пучков излучения на основе фокусирующей и дисперсионной рентгеновской оптики и организация рабочих станций. DOI:10.22184/1993-8578.2015.61.7.40.50

Фотоника #1/2011
И.Савельев
Наноразмерная обработка

Представлены результаты создания элементов малоразмерной рентгеновской оптики. Кинематическая обработка эллиптического цилиндра осуществляется методом полирования малоразмерным инструментом. Предлагаемая система может быть адаптирована к изготовлению фасеточных объективов.

Наноиндустрия #6/2010
П.Дороватовский, В.Карайченцев, М.Ковальчук, М.Кузнецов, А.Мозгин, Д.Хейкер, В.Чистюнин.
Система управления рентгено-оптической станции “Белковая кристаллография”

Разработана и реализована программно-аппаратная архитектура системы автоматизированного управления (САУ) “Систал-Белок” для рабочей станции синхротронного излучения “Белковая кристаллография” (РССИ) "Белок" Курчатовского центра синхротронного излучения и нанотехнологий. Станция предназначена для исследования атомной структуры органических объектов (белков, вирусов, монокристаллов) и поликристаллических материалов с параметрами ячейки <50Å.