Наноиндустрия #1/2017
Ю.Московская, Р.Федоров, А.Денисов, Д.Бобровский, А.Уланова, А.Никифоров
Состав и принцип формирования типовой оценочной схемы как имитатора БМК и полузаказных БИС на их основе для задач радиационных испытаний
Проанализированы основные особенности и недостатки существующей системы обеспечения требований радиационной стойкости для полузаказных БИС на основе БМК путем разработки и испытаний типовой оценочной схемы (ТОС). Предложено включать в состав ТОС все базовые библиотечные элементы. Предлагается максимально унифицировать ТОС для задач характеризации БМК и контроля партий пластин, анализа особенностей контроля стабильности техпроцесса и оценки радиационной стойкости рабочих зашивок по результатам испытаний ТОС. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.60.69
Наноиндустрия #1/2017
Ю.Московская
Общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе
Разработан и обоснован общий методический подход к оценке радиационной стойкости БМК и полузаказных БИС на их основе. Проанализированы основные особенности БИС на БМК в части задач обеспечения и оценки их радиационной стойкости, обобщены доминирующие радиационные эффекты в БИС на БМК. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.50.59
Наноиндустрия #1/2017
П.Волобуев
Синтезатор частот для базового кристалла серии 5521
Рассмотрен сложно-функциональный блок синтезатора частот, который предназначен для применения в составе микросхем, разрабатываемых на основе базовых кристаллов серии 5521. Описана его структура, особенности отдельных функциональных блоков. DOI:10.22184/1993-8578.2017.71.1.42.49
Наноиндустрия #8/2016
А.Денисов, В.Коняхин
Перспективная элементная база для аппаратуры с жесткими условиями эксплуатации
Рассмотрены особенности базовых матричных и базовых кристаллов как основы для реализации специализированных микросхем. Представлены современные серии базовых кристаллов 5521 и 5529, а также БМК малой степени интеграции серий 5503 и 5507. DOI:10.22184/1993-8578.2016.70.8.22.31
Наноиндустрия #7/2016
Д.Мамонов
Микросхема управления матричными буквенно-цифровыми LED-дисплеями (7 × 5)
Рассматриваются особенности проектирования радиационно-стойкой микросхемы 5521ТР034-726 управления восемью матричными буквенно-цифровыми дисплеями (7 × 5) на основе БК серии 5521. DOI:10.22184/1993-8578.2016.69.7.52.58
Наноиндустрия #7/2016
А.Лукьянов, Р.Фёдоров
Микросхема цифровой гальванической развязки
На основе унифицированной библиотеки ячеек серии БК 5521 показана разработка микросхемы двухканальной трансформаторной гальванической развязки, приводится описание основных блоков и принципов работы. DOI:10.22184/1993-8578.2016.69.7.42.47
Наноиндустрия #7/2016
Н.Малашевич
Ячейка ОЗУ, устойчивая к воздействию внешних факторов
Показана возможность реализации блоков однопортовых и двухпортовых оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) повышенной стойкости к внешним факторам для базовых кристаллов (БК) серий 5521 и 5529. Рассмотрена ячейка памяти ОЗУ. DOI:10.22184/1993-8578.2016.69.7.26.31
Электроника НТБ #9/2015
Ю.Завалин, В.Немудров, А.Гришаков, Д.Куликов
Полузаказные СнК – основа мелкосерийного производства СБИС специального назначения
Рассматриваются полузаказные СБИС на основе базовых матричных кристаллов (БМК), разработанные в АО “НИИМА “Прогресс”. Отмечены преимущества их использования в отечественной электронной компонентной базе по сравнению с решениями на основе ПЛИС и заказных специализированных СБИС.