sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Мартинес-Дуарт Дж. М., Мартин-Палма Р.Дж., Агулло-Руеда Ф.
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "зондовая микроскопия"
Наноиндустрия #2/2024
А.И.Ахметова, Т.О.Советников, Б.А.Логинов, Д.И.Яминский, И.В.Яминский
КВАРЦЕВАЯ ЭТАЛОННАЯ МЕРА ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ
Повышение точности и достоверности измерений в наномасштабе становится все более актуальной задачей для различных приложений, особенно в таких областях, как полупроводниковая электроника, оптические метаматериалы, сенсоры и биологические измерения. С появлением методов визуализации высокого разрешения закономерно возникла и потребность в метрологической поверке этих приборов. Появилась задача измерить наноразмерную морфологию в конкретном местоположении, что требует точности позиционирования как в вертикальном, так и в латеральном направлении. Стабильность и надежность измерений требуют регулярно отлаживать микроскоп с помощью калибровочных средств. Одним из таких эталонов могут быть кварцевые калибровочные меры.
Наноиндустрия #5/2023
Д.И.Яминский, И.В.Яминский
СИСТЕМА НАНОПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ ДЛЯ ФИЗИЧЕСКОГО ЭКСПЕРИМЕНТА
DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2023.16.5.266.270 Разработана двухступенчатая система нанопозиционирования по трем координатам X, Y и Z с точностью до 0,1 нм. Система нанопозиционирования предназначена для использования в сканирующей зондовой микроскопии, оптической микроскопии сверхвысокого разрешения и микролинзовой микроскопии. В статье рассмотрен пример построения сканирующего капиллярного микроскопа на основе разработанной системы прецизионных перемещений.
Наноиндустрия #8/2017
А.Ахметова, И.Назаров, Г.Преснова, М.Рубцова, А.Егоров, И.Яминский
Обнаружение белковых биомакромолекул с помощью пьезокерамического биочипа
Рассмотрены конструкция пьезокерамического кантилеверного биочипа и способы обнаружения с его помощью белковых макромолекул для использования в медицине. УДК 543.07, ВАК 05.11.13, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.79.8.44.48
Наноиндустрия #4/2015
Г.Киселев, П.Горелкин, А.Ерофеев, Д.Колесов, И.Яминский
Детекция вирусов с помощью пьезоэлектрических кантилеверов
Быстрый прямой анализ вируса гриппа А в жидкой среде может выполняться с помощью пьезоэлектрического кантилевера с рецептором, модифицированным гликополимером, который содержит сиаловые группы, специфичные к белку оболочки вируса. DOI:10.22184/1993-8578.2015.58.4.62.67
Наноиндустрия #6/2011
И.Яминский, О.Синицына
Справочник по микроскопии для нанотехнологии
В октябре 2011 года в издательстве "Научный мир" вышел в свет перевод английского энциклопедического издания "Справочник по микроскопии для нанотехнологии". Авторы книги – более 50-ти лидеров современной микроскопии. Книга рассказывает об основных методах оптической, зондовой и электронной микроскопии. В ней содержатся разнообразные примеры применения микроскопии в практической нанотехнологии.
Наноиндустрия #3/2011
Д.Андреюк, В.Быков
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ): современные тенденции
В настоящее время в линейке продукции НТ-МДТ более 30 приборов для сканирующей зондовой микроскопии. Некоторые из них используются для узкоспециальных применений и относительно медленно меняются со временем. Другие же, наоборот, в процессе отработки потока запросов, предложений и пожеланий, поступающих в результате обратной связи с пользователями, изменяются очень быстро. Очевидно, именно массовые и наиболее быстроменяющиеся виды оборудования могут служить своеобразным индикатором определенной тенденции в зондовой микроскопии а, возможно, и в научном приборостроении в целом. Ниже проанализированы модели сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ) НТ-МДТ, которые, как представляется, отражают важные тенденции в развитии отрасли.
Наноиндустрия #2/2011
Г.Мешков, А.Рахимова, А.Филонов, Д.Яминский, И.Яминский.
Дистанционное управление нанотехнологическим оборудованием
Сочетание уникальных возможностей зондовой микроскопии с современными коммуникационными решениями – способ достижения наибольшей эффективности работы аппаратуры. Доступность прибора через Интернет для управления им и получения данных измерений во многих случаях полезна, а часто просто необходима. С особенной очевидностью это проявляется при длительных измерениях, например, при наблюдении за ростом белковых кристаллов или кинетикой медленных химических реакций на поверхности при изучении процессов окисления и коррозии.
Разработка: студия Green Art