Тег "сканирующая зондовая микроскопия"
Наноиндустрия #6/2012 Г.Мешков, О.Синицына, Д.Яминский, И.Яминский Динамическая измерительная мера "Нанометр"
Представлено решение динамической измерительной меры нанометра в виде пьезокерамической пластины. Измерительная мера может применяться для калибровки сканирующих зондовых микроскопов, что особенно важно при измерении и анализе данных биомедицинских измерений – изображений белков, комплексов ДНК с белками, вирусных частиц, фрагментов клеток, биомаркеров.
Наноиндустрия #4/2012 А.Протопопова, Е.Дубровин, А.Филонов Корреляционный анализ в сканирующей зондовой микроскопии
В первую очередь в сканирующей туннельной микроскопии исследователи часто работают с органическими веществами, формирующими высокоупорядоченные тонкие пленки или кристаллические структуры.Такие объекты прекрасно подходят, чтобы получить картинки поверхности с эффектным молекулярным разрешением. Такие изображения допускают построение пространственной модели элементарной ячейки пленки или кристалла. Общая проблема таких изображений – их зашумленность. Чтобы улучшить их качество, используются методы корреляционного анализа.
Наноиндустрия #1/2012 K.Gogolinskiy, A.Useinov, A.Kuznetsov, V.Reshetov, S.Golubev Метрологическое обеспечение измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне
В работе обсуждается задача обеспечения прослеживаемости измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне сканирующей зондовой микроскопией (СЗМ) к первичному эталону метра. Описывается сканирующий зондовый микроскоп "НаноСкан-3Di" с интегрированным трехкоординатным лазерным гетеродинным интерферометром. Рассмотрены особенности применения сверхострых алмазных наконечников для получения профиля поверхности методами СЗМ в сравнении со стандартными кремниевыми кантилеверами.
Наноиндустрия #6/2011 О.Синицына, И.Яминский Высокоориентированный пиролитический графит
Высокоориентированный пиролитический графит (ВОПГ) находит широкое применение в науке и нанотехнологии. В статье систематизированы данные по строению поверхности ВОПГ. Показана зависимость структуры поверхности от параметра мозаичности. Приводится классификация основных дефектов поверхности сколов.
Наноиндустрия #1/2011 Д.Багров, Г.Мешков, О.Синицына, С.Смирнов, И.Яминский Молекулярный экспресс анализ для диагностики и биомедицины
Современные методы наноаналитики – сканирующая зондовая микроскопия, атомные весы, оптическая микроскопия сверхвысокого разрешения за дифракционным приделом, флуоресцентная и интерференционная микроскопия – открывают новые возможности в медицинской диагностике на уровне отдельных биомакромолекул, вирусных частиц, клеток бактерий и высших организмов.
eng
