sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по нанотехнологиям
Под ред. М.Я. Мельникова, Л.И. Трахтенберга
Суминов И.В.,Белкин П.Н., Эпельфельд А.В., Людин В.Б., Крит Б.Л., Борисов A.M.
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "scanning probe microscopy"
Наноиндустрия #5/2018
А.Филонов, И.Яминский, А.Ахметова, Г.Мешков
"ФемтоСкан Онлайн"! Почему он?
Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн" позволяет проводить обработку, анализ и построение изображений в сканирующей зондовой микроскопии, а также управлять сканирующим зондовым микроскопом в том числе удаленно – через Интернет. "ФемтоСкан Онлайн" воспринимает более 100 различных форматов записи данных от существующих и уже исчезнувших компаний, микроскопы которых используются в лабораториях мира. ПО удобно применять для анализа больших снимков, так как на экран монитора выводятся два изображения: обзорное со скользящим окном и увеличенное отображение содержимого скользящего окна. Также реализована возможность просмотра трехмерных изображений на стереомониторе. ПО успешно используется в учебной и образовательной работе в вузах, школах и в ЦМИТ "Нанотехнологии". УДК 004.932; ВАК 05.11.01; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.84.5.336.342
Наноиндустрия #2/2018
Б.Логинов
Зондовая микроскопия: новые возможности для вузов и школ
Разработанные и апробированные автором новые методики преподавания, которые реализованы на базе серийного микроскопа СММ-2000, позволяют проводить интересные и понятные учебные курсы по зондовой микроскопии и нанотехнологиям. УДК 620.187; ВАК 01.04.01; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.81.2.174.179
Наноиндустрия #2/2018
О.Синицына, А.Ахметова, Г.Мешков, Т.Гончарова, И.Пылев, М.Смирнова, Ю.Белов, И.Яминский
Влияние микроструктуры графита-прекурсора на процесс образования оксида графита
Оксид графита – перспективный материал для различных применений. Ключевую роль в процессе синтеза оксида играет тип графита. УДК 661.666.2, ВАК 05.16.09; DOI: 10.22184/1993-8578.2018.81.2.170.172
Наноиндустрия #6/2017
А.Ахметова, И.Яминский
Центр перспективных технологий: производство и инновации
Сканирующий зондовый микроскоп "ФемтоСкан" за прошедшие двадцать лет эволюционировал в многофункциональный прибор, в котором интегрировано около ста различных режимов измерений. Одновременно изготовление СЗМ переводилось на систему цифрового производства. УДК 681.2 ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1993-8578.2017.77.6.110.112
Наноиндустрия #5/2017
А.Ахметова, Ю.Белов, И.Яминский
Трехкоординатный фрезерно-гравировальный центр с ЧПУ ATCNano
В центре молодежного инновационного творчества "Нанотехнологии" каждый день ведется работа по разработке интересных технологичных и перспективных проектов. Одним из наиболее востребованных на сегодняшнем рынке направлений стало создание станков с ЧПУ. УДК 621.9, ВАК 05.02.07, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.62.64
Наноиндустрия #5/2017
И.Пылев, И.Яминский
Эталон нанометра
Одна из проблем нанометрологии заключается в создании простого и доступного эталона длины в нанометровом диапазоне. На данный момент не существует малогабаритного эталона длиной ровно в 1 нм, с помощью которого можно было бы проводить калибровку сканирующего зондового микроскопа непосредственно в процессе сканирования. Его создание значительно упрощает процесс калибровки микроскопа, а сам эталон служит прочным метрологическим фундаментом для развития перспективных нанотехнологий. УДК 531.711 ВАК 05.02.23 DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.52.57
Наноиндустрия #4/2017
И.Яминский, А.Ахметова, М.Смирнова
Сканирующая зондовая микроскопия локальных химических реакций в осажденных тонких пленках
Интеграция режима сканирующей капиллярной микроскопии в сканирующие зондовые микроскопы открывает новые возможности в области управления локальными химическими реакциями. УДК 621.385.833 ВАК 05.11.13 DOI: 10.22184/1993-8578.2017.75.4.64.67
Наноиндустрия #4/2017
И.Яминский, Г.Мешков, А.Ахметова
Методы наноскопии в исследовании углеродных материалов и биополимеров
С целью установления взаимосвязи между локальной структурой поверхности углеродных и полимерных материалов и их электрофизическими свойствами разработана установка для совмещенной атомно-силовой и сканирующей капиллярной микроскопии, позволяющая изучать морфологию и свойства 2D наноразмерных структур, а также проводить их контролируемое нанесение. УДК 621.385.833 ВАК 05.11.13 DOI: 10.22184/1993-8578.2017.75.4.46.51
Наноиндустрия #2/2017
М.Зубашева, А.Сагитова, Ю.Смирнов, Т.Смирнова, Р.Азизбекян, В.Жуховицкий, И.Яминский
Ультраструктурный анализ Brevibacillus laterosporus методами электронной и атомно-силовой микроскопии
Представлены экспериментальные данные электронной и атомно-силовой микроскопии спор Brevibacillus laterosporus. Определены размер и строение спор и входящих в их состав каноэвидных включений. Штаммы Brevibacillus laterosporus, обладающие инсектицидными свойствами, могут применяться для борьбы с переносчиками заболеваний, передаваемых через укусы насекомых. УДК 578.2, ВАК 05.11.13, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.72.2.74.78
Наноиндустрия #2/2017
В.Быков, В.Поляков
Новые решения для материаловедения, комплексного исследования и контроля материалов и структур с высоким пространственным разрешением
Рассмотрены основные этапы развития систем сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии нанометрового пространственного разрешения российского производства. Приводятся новые конструкции приборов группы компаний NT-MDT Spectrum Instruments, новые разработки микромеханических систем для СЗМ. Проанализированы тенденции их развития с учетом особенностей России во взаимосвязи с мировым рынком научного приборостроения.
1 2 3
4
5 6 7 8
Разработка: студия Green Art