Тег "scanning probe microscopy"
Наноиндустрия #3/2013 А.Гаскаров, И.Яминский Микроскопия в клинической диагностике. Обнаружение частиц нанометрового размера
Наиболее известны в научной сфере методы наблюдения наночастиц – электронная и сканирующая зондовая микроскопия. Достоинства электронной микроскопии – прямое представление изображения, высокая скорость сканирования, совмещение с различными приставками. Однако она требует работы только с образцами на подложке и в вакууме. Также, в случае непроводящих образцов, необходимо учитывать влияние пространственного заряда.
Наноиндустрия #1/2013 С.Савинов, И.Яминский От Скана до ФемтоСкана: итоги 25 лет
Появление сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) совпало с началом эпохи персональных компьютеров. История СЗМ – эра развития высоких технологий, во многом связанных с научно-технической революцией в компьютерных и информационных технологиях. Обсуждается создание СЗМ Скан и его последующих новых модификаций.
Наноиндустрия #8/2012 А.Гневко, А.Мальцев, С.Пушко Характеристика профилей скрайбирования при СЗМ-исследовании поверхностей сталей и сплавов
Состояние конструкционных материалов может быть определено локальными методами, в частности, при использовании СЗМ, которые проводятся в заводских условиях на работающем оборудовании. Разработки компании НТИ дополнили стандартную методику скрайбирования поверхности ее СЗМ-исследованиями.
Наноиндустрия #7/2012 А.Большакова Интернет-практикум по сканирующей зондовой микроскопии
В статье описывается опыт создания и апробации практикума по зондовой микроскопии в МГУ имени М.В.Ломоносова. Авторами лабораторных работ являются ведущие специалисты в области зондовой микроскопии. Была создана весовая модель зондового микроскопа, позволяющая отработать настройку обратной связи без ущерба для реального прибора. В настоящий момент практикум по зондовой микроскопии доступен также в дистанционном формате.
Наноиндустрия #6/2012 А.Протопопова, А.Большакова, Д.Багров Первый всероссийский конкурс "Детектив в лаборатории"
Со 2 апреля 2012 года в течение трех недель школьники со всей России принимали участие в первой всероссийской онлайн-игре "Детектив в лаборатории". Конкурс был организован ЗАО "Центр перспективных технологий" совместно со Школьной лигой РОСНАНО и МГУ имени М.В.Ломоносова. Целью конкурса было показать старшеклассникам, что наукой заниматься интересно и совсем нескучно.
Наноиндустрия #6/2012 Г.Мешков, О.Синицына, Д.Яминский, И.Яминский Динамическая измерительная мера "Нанометр"
Представлено решение динамической измерительной меры нанометра в виде пьезокерамической пластины. Измерительная мера может применяться для калибровки сканирующих зондовых микроскопов, что особенно важно при измерении и анализе данных биомедицинских измерений – изображений белков, комплексов ДНК с белками, вирусных частиц, фрагментов клеток, биомаркеров.
Наноиндустрия #4/2012 А.Протопопова, Е.Дубровин, А.Филонов Корреляционный анализ в сканирующей зондовой микроскопии
В первую очередь в сканирующей туннельной микроскопии исследователи часто работают с органическими веществами, формирующими высокоупорядоченные тонкие пленки или кристаллические структуры.Такие объекты прекрасно подходят, чтобы получить картинки поверхности с эффектным молекулярным разрешением. Такие изображения допускают построение пространственной модели элементарной ячейки пленки или кристалла. Общая проблема таких изображений – их зашумленность. Чтобы улучшить их качество, используются методы корреляционного анализа.
Наноиндустрия #3/2012 О.Синицына, И.Яминский Международная конференция и выставка “Графен 2012”
В статье рассказывается о работе 10–13 апреля международной конференции и выставки "Графен 2012" в Брюсселе. Освещены основные темы научных докладов и постеров, материалов, представленных на выставке. Рассказывается о новом высокосовершенном пиролитическом графите для наноприложений и получения графена.
Наноиндустрия #1/2012 K.Gogolinskiy, A.Useinov, A.Kuznetsov, V.Reshetov, S.Golubev Метрологическое обеспечение измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне
В работе обсуждается задача обеспечения прослеживаемости измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне сканирующей зондовой микроскопией (СЗМ) к первичному эталону метра. Описывается сканирующий зондовый микроскоп "НаноСкан-3Di" с интегрированным трехкоординатным лазерным гетеродинным интерферометром. Рассмотрены особенности применения сверхострых алмазных наконечников для получения профиля поверхности методами СЗМ в сравнении со стандартными кремниевыми кантилеверами.
Наноиндустрия #6/2011 О.Синицына, И.Яминский Высокоориентированный пиролитический графит
Высокоориентированный пиролитический графит (ВОПГ) находит широкое применение в науке и нанотехнологии. В статье систематизированы данные по строению поверхности ВОПГ. Показана зависимость структуры поверхности от параметра мозаичности. Приводится классификация основных дефектов поверхности сколов.
eng
